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       X射線衍射儀是一種什么樣的儀器，和X射線熒光光譜分析儀有什么不同？

       X射線衍射儀是一種利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。采用了理學的CBO交叉光學系統，一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。采用組合式結構，通過對各個單元的不同組合，可以進行各種測試。這種儀器可分析粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品在內的多種材料，包括了金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。應用范圍廣泛。

樣品檢測

       這種檢測儀器又有什么樣的優勢呢？

       1、直接傳動高精度轉矩馬達與優良的光學編碼器相結合，確保了儀器的傳動速度和精度；

       2、可以進行常規的晶相識別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算；

       3、光學系統可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換；

       4、高分辨的反射技術，讓檢測厚度至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進行薄膜或層次分析；

       5、全部組件可以拆分為7個模塊，同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；

       6、可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優先取向、納米粒子分析；

       7、將拋面鏡單色器與晶體開槽技術有機結合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光；

       8、強大、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單，軟件同時具有其他進階功能，可以幫助用戶對復雜的譜圖進行分析。